140717 Flächenhaftes Messen und Charakterisieren von Oberfl ächenrauheit – Stand der aktuellen Technik from apertur Watch Video
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⏲ Duration: 24 min 65 sec ✓ Published: 25-Jul-2014
Description: Prof. Jörg Seewig - Technische Universität KaiserslauternnnInhalt:nnGestaltabweichungen nach DIN 4760n„Die Anfänge der Rauheitsbewertung“: Rubert VergleichsnormalnDas Enveloppe E-System nach v. WeingrabernDas Mittellinien M-SystemnWozu benötigen wir die neue 3D – Norm ISO 25178 ?nMotivation der flächenhaften RauheitsmesstechniknAnforderungen an die heutige ProduktionsmesstechniknMessdatenerfassungnEigenschaften optische Messdatenerfassung: numerisch
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